Ts概况

概况

Ts-X轮廓仪

ConturoMatic TS

Ts轮廓扫描仪

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轮廓粗糙度

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技术规格

TS轮廓测量——远离传统方法

ConturoMatic TS 简单地克服界限

轮廓粗糙度仪

ConturoMatic TS轮廓仪

我们的解决方案: 分离 X 和 Z

进给轴承担刀具座的功能,而Z轴仅执行扫描运动。由于两个轴都是电动的,这会带来巨大的好处。

无论轮廓倾斜如何,两个轴都受到控制以保持测量速度恒定。经典的组合驱动单元仅沿 X 方向以恒定速度移动,这总是会导致沿陡峭轮廓部分的测量点距离增加。

数据点相等的这种不规则性总是会导致只能通过插值(通过算法生成临时值)来解决的数学问题。

我们的解决方案会自动产生更一致的数据点距离。

因此,结果的计算总是使用真实的、物理记录的测量值进行。此外,直线的 Z 轴运动受到引导,这意味着测量路径不再受到传统驱动单元跟踪臂圆周运动的限制。我们的追踪臂几乎总是水平设置的。探头尖端可以在高达 250 x 320 mm 的测量范围内动态跟随轮廓,并且在整个测量范围内明确定义扫描条件。

由于探头尖端位置被精确定义并且可重复到几分之一毫米,因此即使在最小的孔中也可以进行安全和自动测量。

此外,Z 轴的导轨偏差通常会因跟踪臂长度的杠杆效应而导致测量误差,而我们的概念可以自动补偿该偏差。

CONTUROMATIC TS

超前的设计理念

所有 ConturoMatic TS 系统背后的概念主要包括两个电动测量轴。 X 轴承载样本,Z 轴扫描轮廓。 测量值记录和控制均严格基于最先进的数字技术。 机械底座采用优质花岗岩。

影响:

由于我们的系统中使用了精密零件,因此不需要昂贵且过于复杂的误差校正。 稳定性和使用寿命是我们 ConturoMatic 产品的基本要素。 新的、不同的、创新的和技术革命性的。

使我们的新型 TS 系统成为同类产品中最佳设备的技术创新包括用于跟踪力调节的集成、免维护机电系统。

使用此功能,可以针对每个跟踪臂的轮廓和粗糙度模式调整跟踪力。 这些设置是为每个追踪臂单独设置的,由软件管理,并根据所需的测量功能自动调整。 为了校准跟踪臂以及上下探头尖端之间的偏移,只需要球标准件(包含在供货范围内)。

由于追踪臂具有精确的几何水平位置,因此可以检查直径小于 2 毫米至大于 300 毫米的轮廓和孔。 Z 轴运动的集成安全关闭功能可最大程度地减少探头尖端的损坏。 通过集成测量力设置激活的粗糙度分析选项可以与轮廓分析结合使用。 在许多情况下,这使得进一步的测量变得多余。 一步即可有效确定轮廓和粗糙度结果。 我们的 ConturoMatic-TS 可以执行的其他任务包括孔分析、内轮廓到外轮廓的距离、锥角和平行度、轮廓缺陷以及不连续表面的测量,且不会丢失参考测量结果。

您的需求是否在增长? ConturoMatic TS 陪伴您的发展。

模块化概念允许经济高效地进入 TS 级,并可以随时改装附加功能。 无需对现有系统进行机械干预; 只需软件激活即可。

TS 的技术亮点:

  • 坚固的机械底座
  • 大测量范围:250 x 320
  • 花岗岩导向元件可实现最高水平度
  • 集成 Y 调整台
  • 电动测量轴
  • 永久动态速度控制
  • 无论剖面偏角如何,数据点距离恒定
  • 非接触式增量线性光栅尺。 我们的重秤在热性能方面就像钢铁一样。 因此,在大多数情况下,不需要温度补偿或广泛的气候控制。
  • 内置控制电子设备
  • 通过标准接口进行数据记录和控制可确保未来的可用性和独立性,无论计算机硬件如何变化
  • ConturoMatic TS 精度:± (0.9 + L/100) µm [L = 测量长度(毫米)]

扩展选项

可选的扩展包包含所有必要的组件,例如用于向上/向下扫描的跟踪臂、带有粗糙度传感器(包括金刚石尖端)的粗糙度软件选项、用于自动顶点搜索的电动 Y 工作台等。

ConturoMatic TS-UD 的扫描方向

选项 UD(上/下双向扫描)

此选项可以在不丢失参考测量的情况下切换扫描方向,例如 定义从外轮廓到内轮廓的孔或参考。

该功能还可与粗糙度分析结合使用,并可集成到自动测量序列中。

ts粗糙度扫描

选项 R(粗糙度)

粗糙度 (R) 选项使得可以通过参考表面测量来测量表面粗糙度。 可以通过多轮廓功能组合并自动化测量轮廓和粗糙度。

此功能还可与 UD 选件结合使用。

ConturoMatic TS-UD 的扫描方向

选项 M(电动 Y 形工作台)

软件控制的电动可调 Y 工作台,用于自动天顶搜索。 Y 工作台引导系统的迟滞实际上可以忽略不计,因此不会对直径测量或 UD 功能产生任何相关影响。 顶点搜索可以通过软件或手动进行。

轮廓粗糙度

一步完成轮廓和粗糙度

最先进的轮廓测量系统能够在更大程度上记录和计算粗糙度参数。 陡峭轮廓的粗糙度测量使越来越多的以前的扫描程序和评估方法达到了极限。

为了解决这个问题,我们的计算算法从一开始就基于正交回归。 这种方法与动态速度控制相结合,可确保数据点距离均匀,即使在严重倾斜的表面上也能获得完美精确的结果。 相比之下,实现恒定测量点距离的传统解决方案需要通过插值生成尚未实际测量的理论点。

通过我们可选的 ConturoMatic TS 表面粗糙度软件更新,您的轮廓测量系统将变成一个特别高性能的表面测量系统。
所有常见参数均可自动测量和评估。 该软件无缝集成到标准软件中,操作直观。 还可以更新迄今为止交付的每个 T1 和 TS 系统。 该更新包括表面粗糙度软件、尖端半径为 2 µm、角度为 60° 的粗糙度追踪臂以及综合操作说明。 粗糙度选项是 ConturoMatic TS-X 的标准配置。

ConturoMatic 系统测量表面指数所采用的标准:

  • DIN EN ISO 4287:2010-07
  • DIN EN ISO 4288:1998-04
  • EN ISO 16610-21:2013-06
  • DIN EN ISO 13565-1:1998-04
  • DIN EN ISO 13565-2:1998-04
  • DIN EN 10049:2014-03
  • VDA 2006:2003-07
  • VDA 2007:2007-02(可选)
  • ISO/TS 16610-31:2010(可选)

可评估指标:

  • Pt、Pz、Pa、Pc、Pq、Pp、Pv、Psk、Pku、PSm、Pdq、Pmr(c)
  • Rt、Rz、Rzi、Rz1max、Ra、Rc、Rq、Rp、Rv、Rsk、Rku、RSm、Rdq、Rmr(c)、Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、Rmax、R3z、RPc
  • Wt、Wz、Wa、Wc、Wq、Wp、Wv、Wsk、Wku、WSm、Wdq、Wmr(c)
  • 主要纹波 WDSm、WDc、WDt 符合 VDA 2007:2007-02(可选)
  • 使用相位校正高斯滤波器进行滤波
  • 符合 ISO/TS 16610-31:2010 的鲁棒高斯滤波器(可选)

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